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LSIC老化機臺測試系統

方案概述

LSIC老化機臺測試系統是用于測試半導體芯片老化性能的設備。半導體芯片在長時間運行后,可能會出現老化現象,比如電容降低、漏電流增加等,這些現象會影響芯片的性能和可靠性。因此,LSIC老化機臺測試系統被用來模擬芯片長時間運行的環境,以便測試芯片在長時間使用后的性能及可靠性。

該系統通常包含加熱、降溫、恒溫等多種測試條件,并配有專業的測量儀器,可以對芯片的電學性能、熱學性能、機械性能等進行測試。此外,該測試系統還可以記錄芯片的使用時間、電壓、溫度等參數,以幫助工程師分析芯片的工作情況和預測芯片的使用壽命。


技術參數
LSIC2000/7000系列LSIC8000系列主要技術參數
1.提供32個老化插槽,可獨立老化16種不同器件1.提供16個老化插槽,可獨立老化16種不同器件
2.每個老化插槽提供184路可獨立編程的數字信號,其中有32路為雙向I/02.每個老化插槽提供128路可獨立編程的數字信號,128路全為雙向I/0
3.每個老化插槽提供8個DPS二級電源,二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%+30mV; 電流精度為-1%+50mA3.每個老化插槽提供8個DPS二級電源,二級電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級電源的電壓精度為士5%o+30mV; 電流精度為+1%+50mA
4.上升/下降時間參10nS4.上升/下降時間至10nS
5.數字信號Pin最大驅動電流: 50mA5.數字信號Pin最大驅動電流: 50mA
6.數字信號最大頻率可達12.5Mhz6.數字信號最大頻率可達12.5Mhz
7.向量最大深度可達16M行7.向量最大深度可達16M行
8.文件格式為VEC格式,支持sti1格式文件直接轉換為VEC格式文件8.文件格式為VEC格式,支持sti1格式文件直接轉換為VEC格式文件
支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調用指令:CALL,RET9.支持向量指令ADV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調用指今: CALL,RET
10.支持8路獨立溫控:溫控精度至3”C
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