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產品導航

水冷間歇壽命老化測試系統(IOL3000)

該系統適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1SMD-2等)的大功率二極管、MOS管等功率器件進行秒級功率循環試驗和恒流功率試驗。系統提供12塊水冷板,充分避免不同區位試驗進程不同對試驗結果造成影響;在實驗過程中,監測器件的電壓、結溫特性,并且提供結溫特性曲線以備后期數據分析。

功能
  • 支持分鐘級/秒級功率循環測試
  • 實時監測輸出功率、柵壓、漏壓以及電流監測
  • 夾具支持可調力度及深度,可對不同封裝的模塊進行有效的夾固
  • 具備12塊獨立水冷版,每塊均配備電動水閥,可根據實際情況自動調整冷卻水流
產品特性

試驗溫區

12區

試驗控制范圍

5~30℃(水冷板)

老化試驗區

12區

恒溫系統控制精度

水冷系統:±2℃

結溫測試精度

±2℃

冷板及殼溫測試精度

±2℃

加熱電流

100A(每區)

測試電流

10~100mA

測試電流精度及分辨率

±(0.1%+2mA)

分辨率

0.5mA

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

30KW(典型)

整機重量

≤1200KG(典型)

整機尺寸(不含水冷機)

1850mm(W)×1650mm(D)×1200mm(H)

適用標準

GJB128 AQG324 JESD51

適用器件

適用于各種封裝的大功率二極管、MOS管等功率器件

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