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產品導航

間歇壽命老化測試系統(IOL6000)

該系統可針對各種功率器件進行功率循環老化試驗,模擬器件在不同功率工況下的退化情況,通過加熱與冷卻過程的控制,對封裝、溝道或者內部鍵合絲進行熱疲勞試驗。

功能
  • 可根據不同封裝、功率等要求,定制專用老化測試板
  • 高功率耗散,小體積,大容量
  • 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性

試驗模式

風冷

試驗風道

統一風道

老化試驗區

16區

單區工位數

56(典型)

最大負載

180mA

最大電壓

48V

最大測試

200℃

柵極控制電壓

±15V

測試電流

10mA

接地電阻

≤1Ω

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

50KW(典型)

整機重量

700KG(典型)

整機尺寸

1490mm(W)x1000mm(D)x2000mm(H)

適用標準

GJB128A MIL-STD-750 AEC-Q101 JESD51-1

適用器件

適用于二極管、MOSFET、IGBT、CMOS等功率器件

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