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產品導航
當前位置: 首頁 產品中心 可靠性測試設備 分立器件實驗設備 光耦老化 光耦老化測試系統 (GPIC2004)

光耦老化測試系統(GPIC2004)

該系統可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進行高溫恒流和恒功率老化,適應輸入端種類:各種雙向輸入型、單向輸入型器件;適應輸出端種類:三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等。系統可適用于研究所、微電路器件生產廠等進行各種器件的壽命篩選試驗和二級篩選試驗,適用于小批量多品種的試驗要求。

功能
  • 驅動板功能模塊化,由各個模塊實現不同功能,后續更換維修方便
  • 可對不同通道數,種類光耦進行測試,通用性強
  • 有1024個恒流環,可對每一路單獨校準,實現高精度測試
  • 可兼容各種不同型號老化板,實現對不同器件的老化
產品特性

試驗溫區

1個

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區

16區

負載恒流控制范圍

1~80mA

程控精度

±(1.0%xRD+2LSB)

電壓檢測范圍

0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB)

老化通道數

16x64=1024

漏電流檢測范圍

1~100mA

漏電流檢測精度

±(1.0%xRD+2LSB)

老化模式

具有恒流恒功率兩種工作模式

恒功率檢測誤差

±(3.0%xRD+3mW)

電源

0~60V/40A(8路可選配)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

650KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB128 GJB33 MIL-STD-75

適用器件

適應于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件;各種雙向輸入型、單向輸入型器件;三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等

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