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產品導航

IGBT功率循環測試系統(PC3000A)

該系統適用于各種尺寸的IGBT模塊的功率循環試驗,且運用先進的JEDEC靜態試驗方法(JESD51-1)通過改變電子器件的輸入功率,使得器件產生溫度變化。在變化過程中,通過測試芯片的瞬態溫度響應曲線,并對測試波形進行數據處理,得到該電子器件的全面熱特性。

功能
  • 支持分鐘級/秒級功率循環測試
  • 搭載油冷平臺,可快速自動校準被測器件的K系數
  • 夾具支持可調力度及深度,可對不同封裝的模塊進行有效的夾固
  • 具備電磁水閥,可根據實際情況自動調整冷卻水流,亦可手動調整
  • 通過測試器件的瞬態溫度響應曲線,對測試波形進行數據處理,得到該電子器件的全面熱特性
產品特性

試驗溫區

2 個

試驗溫度

水冷板:10~80℃、油冷板: -10~150℃

老化試驗區

3 區

恒溫系統控制精度

水冷系統為±0.5℃、油冷系統為±0.1℃

結溫測試精度

±2℃

冷板及殼溫測試精度

±2℃

加熱電流

1000A/區(支持三區并聯3000A)

測試電流

±(10~1000mA)

測試電流精度及分辨率

±(0.3%+2mA)、分辨率0.5mA

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

30KW(典型)

整機重量

500KG(典型)

整機尺寸(不含水冷機)

1400mm(W)×900mm(D)×1300mm(H)

適用標準

GJB128 JESD51 AQG324

適用器件

適用于各種尺寸的IGBT模塊和MOS模塊

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