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產品導航

高溫高濕反偏老化測試系統(H3TRB2000F)

該系統可進行高溫高濕(雙85)老化測試,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,并根據需要記錄老化試驗數據,導出試驗報表。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數據刷新
  • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
  • 可定制工位老化電壓獨立控制功能,實現單工位老化超限剔除
  • 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性

試驗溫區

1個

試驗溫度

室溫+10~150℃

試驗濕度

10%rh~98%rh

老化試驗區

16區(8/16區可選)

單區工位數

80(典型)

老化電壓范圍

0~±2000V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

10nA~50mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

10KW(典型)

整機重量

1000KG(典型)

整機尺寸

1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H)

適用標準

GJB128 MIL-STD-750D AEC-Q101 JESD22-A101

適用器件

適用于MOS管、二極管、三極管、IGBT模塊、PIM模塊、可控硅等

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