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產品導航

電容器高溫高濕老化測試系統(H3MKP2000)

該系統可對電容器進行高溫高濕(雙85)老化,老化過程中實時監測被測器件的漏電流、電壓,并且根據需要記錄、導出老化數據。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數據刷新
  • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
  • 獨特的自動充放電回路設計
  • 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性

試驗溫區

1個

試驗溫度

室溫-20~180℃

試驗濕度

25%rh~98%rh

老化試驗區

16區(8/16區可選)

單區工位數

40(典型)

老化電壓范圍

0~1200V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

10nA~30mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

12KW(典型)

整機重量

1050KG(典型)

整機尺寸

1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H)

適用標準

GJB360 MIL-STD-202E

適用器件

適用于片式陶瓷電容器(MLCC)、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等

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