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產品導航

電容器高溫老化測試系統(MKP2040)

該系統可進行室溫+10℃~200℃的電容器老化篩選試驗,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,對超限器件進行保護剔除,并根據需要記錄老化數據,導出試驗報表。

功能
  • nA級別的漏電流檢測精度
  • 整機30s的全工位數據刷新
  • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
  • 單工位老化剔除
  • 過流保護響應時間小于100us
  • 獨特的自動充放電回路設計
  • 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性

試驗溫區

1個

試驗溫度

室溫+10~200℃

老化試驗區

16區(16/32/40區可選)

單區工位數

40(典型)

老化電壓范圍

0~1200V

電壓檢測精度

±(1%+2LSB)

電流檢測范圍

10nA~30mA

電流檢測精度

±(1%+10nA)

整機供電

三相AC380V±38V

最大功率

8KW(典型)

整機重量

680KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB360 MIL-STD-202E

適用器件

適用于片式陶瓷電容器(MLCC)、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等

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