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電容器高溫高阻測試系統(HTIR2010)

該系統采用自動(dòng)化測量系統,可進(jìn)行室溫+10℃~150℃電容器IR值測量。測量時(shí),通過(guò)模組控制測試探頭的位移進(jìn)行測試,確保每次只連接一只電容器。機械接觸代替繼電器切換,提高測量精度。

功能
  • 實(shí)時(shí)監測被測器件IR值
  • 選用Keithley 6517B 靜電計/高阻表進(jìn)行測量
  • 可根據不同器件封裝,定制專(zhuān)用老化測試板
  • 裝載阻抗大于10 Ω的電容器時(shí),測試到的阻抗不小于10 Ω
產(chǎn)品特性

試驗溫區

1個(gè)

試驗溫度

室溫+10~150℃

老化試驗區

16區

單區工位數

48(典型)

測量?jì)x表

Keithley 6517B靜電計/高阻表

測試電壓

0~1000V

絕緣電阻范圍

1M2~1TQ

整機供電

單相AC220V±22V

最大功率

5KW(典型)

整機重量

600KG(典型)

整機尺寸

1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

適用標準

GJB360 MIL-STD-202E

適用器件

適用于片式封裝: 04/06/08/10/12/18/20/22/28/32等系列